Il s’agit d’une mise au point sur la technique de la méthode XPPEM (spectroscopie émission photoélectrons X). Le principe de la méthode est d’abord rappelé. Le schéma du microscope est présenté.

L’application de la méthode a permis par exemple de visualiser par imagerie (ou « d’imager » comme le disent les auteurs) les domaines ferroélectriques du titanate de baryum (BaTiO₃) qui est utilisé par des dispositifs électroniques de basse consommation. Des nanofils de silicium ( longueur=50 micromètres ; diamètre=5nm) déposés sur des substrats ont été analysés par cette méthode.