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![](http://www.mediachimie.org/sites/default/files/styles/detail_resource/public/Clefs59_112.png?itok=rOjx5JWw)
Il s’agit d’une mise au point sur la technique de la méthode XPPEM (spectroscopie émission photoélectrons X). Le principe de la méthode est d’abord rappelé. Le schéma du microscope est présenté.
L’application de la méthode a permis par exemple de visualiser par imagerie (ou « d’imager » comme le disent les auteurs) les domaines ferroélectriques du titanate de baryum (BaTiO3) qui est utilisé par des dispositifs électroniques de basse consommation. Des nanofils de silicium ( longueur=50 micromètres ; diamètre=5nm) déposés sur des substrats ont été analysés par cette méthode.
Auteur(s) : Nick Barrett et Olivier Renault
Source : XPEEM, une technique d’analyse de surface parfaitement adaptée aux matériaux innovants, Clefs CEA n°59 (été 2010) Les matériaux au cœur du processus d'innovation, p 112-114
Niveau de lecture : intermédiaire
Nature de la ressource : article
Source : XPEEM, une technique d’analyse de surface parfaitement adaptée aux matériaux innovants, Clefs CEA n°59 (été 2010) Les matériaux au cœur du processus d'innovation, p 112-114
Niveau de lecture : intermédiaire
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